লোডিং...
Short-Range Six-Axis Interferometer Controlled Positioning for Scanning Probe Microscopy
We present a design of a nanometrology measuring setup which is a part of the national standard instrumentation for nanometrology operated by the Czech Metrology Institute (CMI) in Brno, Czech Republic. The system employs a full six-axis interferometric position measurement of the sample holder cons...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , , , , , , , , |
|---|---|
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
Molecular Diversity Preservation International (MDPI)
2014
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3926591/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/24451463 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/s140100877 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|