লোডিং...
Visualization of carrier dynamics in p(n)-type GaAs by scanning ultrafast electron microscopy
Four-dimensional scanning ultrafast electron microscopy is used to investigate doping- and carrier-concentration-dependent ultrafast carrier dynamics of the in situ cleaved single-crystalline GaAs(110) substrates. We observed marked changes in the measured time-resolved secondary electrons depending...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , , |
|---|---|
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
National Academy of Sciences
2014
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3926039/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/24469803 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1073/pnas.1400138111 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|