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Scanning Transmission Electron Microscopy at High Resolution

We have shown that a scanning transmission electron microscope with a high brightness field emission source is capable of obtaining better than 3 Å resolution using 30 to 40 keV electrons. Elastic dark field images of single atoms of uranium and mercury are shown which demonstrate this fact as deter...

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Detalhes bibliográficos
Main Authors: Wall, J., Langmore, J., Isaacson, M., Crewe, A. V.
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: 1974
Assuntos:
Acesso em linha:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC387919/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/4521050
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