تحميل...
Scanning Transmission Electron Microscopy at High Resolution
We have shown that a scanning transmission electron microscope with a high brightness field emission source is capable of obtaining better than 3 Å resolution using 30 to 40 keV electrons. Elastic dark field images of single atoms of uranium and mercury are shown which demonstrate this fact as deter...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | Proc Natl Acad Sci U S A |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
National Academy of Sciences
1974
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.govhttps://pmc.ncbi.nlm.nih.gov/articles/PMC387919/ https://ncbi.nlm.nih.govhttps://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/4521050/ https://ncbi.nlm.nih.govhttps://doi.org/10.1073/pnas.71.1.1 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|