Đang tải...
Scanning X-ray nanodiffraction: from the experimental approach towards spatially resolved scattering simulations
An enhancement on the method of X-ray diffraction simulations for applications using nanofocused hard X-ray beams is presented. We combine finite element method, kinematical scattering calculations, and a spot profile of the X-ray beam to simulate the diffraction of definite parts of semiconductor n...
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , , , , , , |
|---|---|
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
Springer
2012
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3583809/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/23039065 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1186/1556-276X-7-553 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|