লোডিং...

Structural and optical characterization of pure Si-rich nitride thin films

The specific dependence of the Si content on the structural and optical properties of O- and H-free Si-rich nitride (SiN(x>1.33)) thin films deposited by magnetron sputtering is investigated. A semiempirical relation between the composition and the refractive index was found. In the absence of Si...

সম্পূর্ণ বিবরণ

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Debieu, Olivier, Nalini, Ramesh Pratibha, Cardin, Julien, Portier, Xavier, Perrière, Jacques, Gourbilleau, Fabrice
বিন্যাস: Artigo
ভাষা:Inglês
প্রকাশিত: Springer 2013
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3563568/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/23324447
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1186/1556-276X-8-31
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!