تحميل...

Quantitative multichannel NC-AFM data analysis of graphene growth on SiC(0001)

Noncontact atomic force microscopy provides access to several complementary signals, such as topography, damping, and contact potential. The traditional presentation of such data sets in adjacent figures or in colour-coded pseudo-three-dimensional plots gives only a qualitative impression. We introd...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Held, Christian, Seyller, Thomas, Bennewitz, Roland
التنسيق: Artigo
اللغة:Inglês
منشور في: Beilstein-Institut 2012
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3304321/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/22428109
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.3.19
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!