Đang tải...
Graphene on SiC(0001) inspected by dynamic atomic force microscopy at room temperature
We investigated single-layer graphene on SiC(0001) by atomic force and tunneling current microscopy, to separate the topographic and electronic contributions from the overall landscape. The analysis revealed that the roughness evaluated from the atomic force maps is very low, in accord with theoreti...
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | Beilstein J Nanotechnol |
|---|---|
| Những tác giả chính: | , , , , |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
Beilstein-Institut
2015
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4419658/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/25977861 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.6.93 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|