লোডিং...
Near-surface processing on AlGaN/GaN heterostructures: a nanoscale electrical and structural characterization
The effects of near-surface processing on the properties of AlGaN/GaN heterostructures were studied, combining conventional electrical characterization on high-electron mobility transistors (HEMTs), with advanced characterization techniques with nanometer scale resolution, i.e., transmission electro...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , , , , |
|---|---|
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
Springer
2011
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3211179/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/21711655 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1186/1556-276X-6-132 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|