লোডিং...

Reference-free particle selection enhanced with semi-supervised machine learning for cryo-electron microscopy

Reference-based methods have dominated the approaches to the particle selection problem, proving fast and accurate on even the most challenging micrographs. A reference volume, however, is not always available and building a set of reference projections from the data itself requires significant effo...

সম্পূর্ণ বিবরণ

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Langlois, Robert, Pallesen, Jesper, Frank, Joachim
বিন্যাস: Artigo
ভাষা:Inglês
প্রকাশিত: 2011
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3205936/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/21708269
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1016/j.jsb.2011.06.004
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!