تحميل...
Easy and direct method for calibrating atomic force microscopy lateral force measurements
We have designed and tested a new, inexpensive, easy-to-make and easy-to-use calibration standard for atomic force microscopy (AFM) lateral force measurements. This new standard simply consists of a small glass fiber of known dimensions and Young’s modulus, which is fixed at one end to a substrate a...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
2007
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3018784/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/17614616 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1063/1.2745733 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|