Đang tải...
Easy and direct method for calibrating atomic force microscopy lateral force measurements
We have designed and tested a new, inexpensive, easy-to-make and easy-to-use calibration standard for atomic force microscopy (AFM) lateral force measurements. This new standard simply consists of a small glass fiber of known dimensions and Young’s modulus, which is fixed at one end to a substrate a...
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , , |
|---|---|
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
2007
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3018784/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/17614616 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1063/1.2745733 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|