تحميل...
Strong-field Photoionization of Sputtered Neutral Molecules for Molecular Depth Profiling
Molecular depth profiles of an organic thin film of guanine vapor deposited onto a Ag substrate are obtained using a 40 keV C(60) cluster ion beam in conjunction with time-of-flight secondary ion mass spectrometric (ToF-SIMS) detection. Strong-field, femtosecond photoionization of intact guanine mol...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
2010
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC2873046/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/20495665 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1021/jp9054632 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|