تحميل...
Molecular Depth Profiling using a C(60) Cluster Beam: the Role of Impact Energy
Molecular depth profiling of organic overlayers was performed using a mass selected C(60) ion beam in conjunction with time-of-flight (TOF-SIMS) mass spectrometry. The characteristics of sputter depth profiles acquired for a 300-nm Trehalose film on silicon were studied as a function of the kinetic...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
2008
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC2662745/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/19855815 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1021/jp8049763 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|