Study of Thick Film Resistors By 1/f Noise Measurements
Knowledge on the conduction mechanism of thick film resistors are limited and often contradictory.
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
Wiley
1989-01-01
|
| سلاسل: | Active and Passive Electronic Components |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://dx.doi.org/10.1155/1989/36201 |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|