استشهادات التسجيلة
توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)
Ambrózy, A., Hahn, E., Kiss, L. B., & Trefán, G. (1989). Study of Thick Film Resistors By 1/f Noise Measurements. Wiley.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)
Ambrózy, A., E. Hahn, L. B. Kiss, و G. Trefán. Study of Thick Film Resistors By 1/f Noise Measurements. Wiley, 1989.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)
Ambrózy, A., et al. Study of Thick Film Resistors By 1/f Noise Measurements. Wiley, 1989.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.