Compact Single-Shot Dual-Wavelength Interferometry for Large Object Measurement with Rough Surfaces
Single-shot dual-wavelength interferometry offers a promising avenue for surface profile measurement of dynamic objects. However, current techniques employing pixel multiplexing or color cameras encounter challenges such as complex optical alignment, limited measurement range, and difficulty in meas...
சேமிக்கப்பட்டது:
| முதன்மை ஆசிரியர்கள்: | , , , , , , , , |
|---|---|
| வடிவம்: | Artigo |
| மொழி: | Inglês |
| வெளியிடப்பட்டது: |
MDPI AG
2024-05-01
|
| தொடர்: | Photonics |
| பொருள்கள்: | |
| ஆன்லைன் அணுகல்: | https://www.mdpi.com/2304-6732/11/6/518 |
| குறிச்சொற்கள்: |
டாக்ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!
|