Código QR (código de barras bidimensional)

Tribological Study on Photocatalysis-Assisted Chemical Mechanical Polishing of SiC

Silicon carbide (SiC) is widely used as a power semiconductor substrate material, even if it takes a large amount of processing time to secure an appropriate surface as a wafer for devices after chemical mechanical polishing (CMP). Therefore, studies on SiC CMP have focused on shortening the process...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Hyunseop Lee
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: MDPI AG 2023-05-01
סדרה:Lubricants
נושאים:
גישה מקוונת:https://www.mdpi.com/2075-4442/11/5/229
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!