First-Principles Study of Cu Addition on Mechanical Properties of Ni<sub>3</sub>Sn<sub>4</sub>-Based Intermetallic Compounds
Ni–Cu under-bump metallisation (UBM) can reduce stress and improve wetting ability in technology for electronic packaging technology advances with three-dimensional integrated circuit (3D IC) devices. The bond between the Sn-based solder and Ni–Cu UBM is affected by the formation of intermetallic co...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , , , , , , , |
|---|---|
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
MDPI AG
2024-01-01
|
| মালা: | Metals |
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://www.mdpi.com/2075-4701/14/1/64 |
| ট্যাগগুলো: |
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
