Mã QR

Electrical Properties and Thermal Annealing Effects of Polycrystalline MoS<sub>2</sub>-MoS<sub>X</sub> Nanowalls Grown by Sputtering Deposition Method

Straightforward growth of nanostructured low-bandgap materials is a key issue in mass production for electronic device applications. We report here facile nanowall growth of MoS<sub>2</sub>-MoS<sub>X</sub> using sputter deposition and investigate the electronic properties of the nanowalls. MoS<sub>2...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Doo-Seung Um, Mi-Jin Jin, Jong-Chang Woo, Dong-Pyo Kim, Jungmin Park, Younghun Jo, Gwan-Ha Kim
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: MDPI AG 2021-03-01
Loạt:Crystals
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://www.mdpi.com/2073-4352/11/4/351
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!