Código QR (código de barras bidimensional)

High-Throughput Micro-Combinatorial TEM Phase Mapping of the DC Magnetron Sputtered Y<sub>x</sub>Ti<sub>1−x</sub>O<sub>y</sub> Thin Layer System

High-throughput methods are extremely important in today’s materials science, especially in the case of thin film characterization. The micro-combinatorial method enables the deposition and characterization of entire multicomponent thin film systems within a single sample. In this paper, we report t...

תיאור מלא

שמור ב:
Principais autores: Dániel Olasz, Viktória Kis, Ildikó Cora, Miklós Németh, György Sáfrán
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: MDPI AG 2024-05-01
סדרה:Nanomaterials
נושאים:
Y-Ti-O thin films
micro-combinatory
pyrochlore structure
TEM
phase map
reactive DC sputtering
גישה מקוונת:https://www.mdpi.com/2079-4991/14/11/925
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

פריטים דומים