Ohmic-to-Schottky Modification of Zno-Metal Contact Modulated by Film Thickness

This work investigated the charge transport behavior at the interface between a Pt-Ir metal contact and transparent zinc oxide (ZnO) electrodes with one, four, and eight ZnO layers. Electrostatic force microscopy (EFM), Kelvin probe force microscopy (KPFM), and conducting atomic force microscopy (c-...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos

Autores principales:	Raquele Lima Moreira, Luis Paulo Mourão dos Santos, Francisco Carlos Carneiro Soares Salomão, Eduardo B. Barros, Igor Frota Vasconcelos
Formato:	Artigo
Lenguaje:	Inglês
Publicado:	Associação Brasileira de Metalurgia e Materiais (ABM); Associação Brasileira de Cerâmica (ABC); Associação Brasileira de Polímeros (ABPol) 2025-06-01
Colección:	Materials Research
Materias:	Ohmic contact Schottky contact zinc oxide electrodes thin films grain boundaries
Acceso en línea:	http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1516-14392025000200235&lng=en&tlng=en
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