QR Kod

Scaling behavior of InAlN/GaN HEMTs on silicon for RF applications

Abstract Due to the low cost and the scaling capability of Si substrate, InAlN/GaN high-electron-mobility transistors (HEMTs) on silicon substrate have attracted more and more attentions. In this paper, a high-performance 50-nm-gate-length InAlN/GaN HEMT on Si with a high on/off current (I on/I off)...

Ful tanımlama

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar: Peng Cui, Yuping Zeng
Materyal Türü: Artigo
Dil:Inglês
Baskı/Yayın Bilgisi: Nature Portfolio 2022-10-01
Seri Bilgileri:Scientific Reports
Online Erişim:https://doi.org/10.1038/s41598-022-21092-9
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!