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High deposition rate a-Si:H layers from pure SiH4 and from a 10% dilution of SiH4 in H2

In this paper, we present results of the deposition rates and the characterization of a-Si:H layers deposited from pure SiH4 in a 13.56 MHz Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (PECVD) equipment, where the use of parallel plates of equal area, long gas residence as well as the optimization of p...

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Detalhes bibliográficos
Publicado no:Superficies y vacío
Main Authors: M. Estrada, A. Cerdeira, S. Soto, I. Pereyra
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 1999
Assuntos:
Acesso em linha:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94200981
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