Rutherford Backscattering analysis of Bi-based superconducting films
The elemental composition, film thickness and concentration depth profiles of precursor and superconducting (Bi,Pb)-Sr- Ca-Cu-O films were studied by the Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) technique. The precursor films were deposited on MgO single-crystalline substrates from an aerosol at...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | Superficies y vacío |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
1999
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94200943 |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|