লোডিং...

Rutherford Backscattering analysis of Bi-based superconducting films

The elemental composition, film thickness and concentration depth profiles of precursor and superconducting (Bi,Pb)-Sr- Ca-Cu-O films were studied by the Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) technique. The precursor films were deposited on MgO single-crystalline substrates from an aerosol at...

সম্পূর্ণ বিবরণ

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রকাশিত:Superficies y vacío
প্রধান লেখক: R. Vargas, J.C. Cheang Wong, E. Díaz Valdés, A. Morales, M. Jergel
বিন্যাস: Artigo
ভাষা:Inglês
প্রকাশিত: Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 1999
বিষয়গুলি:
Bi
অনলাইন ব্যবহার করুন:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94200943
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!