লোডিং...
Rutherford Backscattering analysis of Bi-based superconducting films
The elemental composition, film thickness and concentration depth profiles of precursor and superconducting (Bi,Pb)-Sr- Ca-Cu-O films were studied by the Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) technique. The precursor films were deposited on MgO single-crystalline substrates from an aerosol at...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রকাশিত: | Superficies y vacío |
|---|---|
| প্রধান লেখক: | , , , , |
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
1999
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94200943 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|