Lataa...

Preparation and optical properties of Ge and C-induced Ge quantum dots on Si

Pure Ge epitaxially grown on Si (100) at high temperatures forms typically 100 nm lateral size islands on top of a 3-4 monolayer thick wetting layer. In stacked layers of Ge dots pronounced vertical alignment is observed if the thickness of the Si spacer layers is smaller than about 50 nm. Pregrowth...

Täydet tiedot

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Julkaisussa:Superficies y vacío
Päätekijät: K. Eberl, O. G. Schmidt, O. Kienzle, F. Ernst
Aineistotyyppi: Artigo
Kieli:Inglês
Julkaistu: Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 1999
Aiheet:
Linkit:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94200902
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!