লোডিং...
Dissipated energy in tapping mode by the atomic force microscope
Dissipated energy measurements between a tip of an AFM and a sample have been used to analyze variations in mechanical and tribological proper ties of materials, using tapping mode AFM to generate topography and phase contrast images. Furthermore it's possible to perform indentations in the m...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রকাশিত: | Acta Scientiarum. Technology |
|---|---|
| প্রধান লেখক: | , |
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
Universidade Estadual de Maringá
2015
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=303241625012 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|