טוען...
A review of defect engineering, ion implantation, and nanofabrication using the helium ion microscope
The helium ion microscope has emerged as a multifaceted instrument enabling a broad range of applications beyond imaging in which the finely focused helium ion beam is used for a variety of defect engineering, ion implantation, and nanofabrication tasks. Operation of the ion source with neon has ext...
שמור ב:
| הוצא לאור ב: | Beilstein J Nanotechnol |
|---|---|
| מחבר ראשי: | |
| פורמט: | Artigo |
| שפה: | Inglês |
| יצא לאור: |
Beilstein-Institut
2021
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC8261528/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/34285866 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.12.52 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|