লোডিং...

Local structure analysis of amorphous materials by angstrom-beam electron diffraction

The structure analysis of amorphous materials still leaves much room for improvement. Owing to the lack of translational or rotational symmetry of amorphous materials, it is important to develop a different approach from that used for crystals for the structure analysis of amorphous materials. Here,...

সম্পূর্ণ বিবরণ

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রকাশিত:Microscopy (Oxf)
প্রধান লেখক: Hirata, Akihiko
বিন্যাস: Artigo
ভাষা:Inglês
প্রকাশিত: Oxford University Press 2020
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7989058/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/33319903
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1093/jmicro/dfaa075
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!