Ładuje się......
Transient Electrical and Optical Characteristics of Electron and Proton Irradiated SiGe Detectors
The particle detector degradation mainly appears through decrease of carrier recombination lifetime and manifestation of carrier trapping effects related to introduction of carrier capture and emission centers. In this work, the carrier trap spectroscopy in Si(1−x)Ge(x) structures, containing either...
Zapisane w:
| Wydane w: | Sensors (Basel) |
|---|---|
| Główni autorzy: | , , , , , , , |
| Format: | Artigo |
| Język: | Inglês |
| Wydane: |
MDPI
2020
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7730890/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/33276481 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/s20236884 |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|