تحميل...
Helium ion microscope – secondary ion mass spectrometry for geological materials
The helium ion microscope (HIM) is a focussed ion beam instrument with unprecedented spatial resolution for secondary electron imaging but has traditionally lacked microanalytical capabilities. With the addition of the secondary ion mass spectrometry (SIMS) attachment, the capabilities of the instru...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | Beilstein J Nanotechnol |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
Beilstein-Institut
2020
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7537380/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/33083198 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.11.133 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|