Φορτώνει......

Thermal neutron transmutation doping of GaN semiconductors

High quality Ge doping of GaN is demonstrated using primarily thermal neutrons for the first time. In this study, GaN was doped with Ge to concentrations from 10(16) Ge atoms/cm(3) to 10(18) Ge atoms/cm(3). The doping concentrations were measured using gamma-ray spectroscopy and confirmed using SIMS...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τόπος έκδοσης:Sci Rep
Κύριοι συγγραφείς: Barber, R., Nguyen, Q., Brockman, J., Gahl, J., Kwon, J.
Μορφή: Artigo
Γλώσσα:Inglês
Έκδοση: Nature Publishing Group UK 2020
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7530752/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/33004847
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/s41598-020-72862-2
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!