تحميل...
Calibration of T-shaped atomic force microscope cantilevers using the thermal noise method
The tip—sample interaction force measurements in atomic force microscopy (AFM) provide information about materials’ properties with nanoscale resolution. The T-shaped cantilevers used in Torsional-Harmonic AFM allow measuring the rapidly changing tip–sample interaction forces using the torsional (tw...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | Rev Sci Instrum |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
AIP Publishing LLC
2020
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7413748/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32872926 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1063/5.0013091 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|