تحميل...

An analytic model for accurate spring constant calibration of rectangular atomic force microscope cantilevers

Spring constant calibration of the atomic force microscope (AFM) cantilever is of fundamental importance for quantifying the force between the AFM cantilever tip and the sample. The calibration within the framework of thin plate theory undoubtedly has a higher accuracy and broader scope than that wi...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
الحاوية / القاعدة:Sci Rep
المؤلفون الرئيسيون: Li, Rui, Ye, Hongfei, Zhang, Weisheng, Ma, Guojun, Su, Yewang
التنسيق: Artigo
اللغة:Inglês
منشور في: Nature Publishing Group 2015
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4625185/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26510769
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/srep15828
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!