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Calibration of T-shaped atomic force microscope cantilevers using the thermal noise method

The tip—sample interaction force measurements in atomic force microscopy (AFM) provide information about materials’ properties with nanoscale resolution. The T-shaped cantilevers used in Torsional-Harmonic AFM allow measuring the rapidly changing tip–sample interaction forces using the torsional (tw...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Rev Sci Instrum
Hauptverfasser: Kim, Youngkyu, Mandriota, Nicola, Goodnight, Davis, Sahin, Ozgur
Format: Artigo
Sprache:Inglês
Veröffentlicht: AIP Publishing LLC 2020
Schlagworte:
Online Zugang:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7413748/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32872926
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1063/5.0013091
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