Načítá se...
Calibration of T-shaped atomic force microscope cantilevers using the thermal noise method
The tip—sample interaction force measurements in atomic force microscopy (AFM) provide information about materials’ properties with nanoscale resolution. The T-shaped cantilevers used in Torsional-Harmonic AFM allow measuring the rapidly changing tip–sample interaction forces using the torsional (tw...
Uloženo v:
| Vydáno v: | Rev Sci Instrum |
|---|---|
| Hlavní autoři: | , , , |
| Médium: | Artigo |
| Jazyk: | Inglês |
| Vydáno: |
AIP Publishing LLC
2020
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7413748/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32872926 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1063/5.0013091 |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|