লোডিং...
Disorder by design: A data-driven approach to amorphous semiconductors without total-energy functionals
X-ray diffraction, Amorphous silicon, Multi-objective optimization, Monte Carlo methods. This paper addresses a difficult inverse problem that involves the reconstruction of a three-dimensional model of tetrahedral amorphous semiconductors via inversion of diffraction data. By posing the material-st...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রকাশিত: | Sci Rep |
|---|---|
| প্রধান লেখক: | , , , |
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
Nature Publishing Group UK
2020
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7210951/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32385360 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/s41598-020-64327-3 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|