Đang tải...
Disorder by design: A data-driven approach to amorphous semiconductors without total-energy functionals
X-ray diffraction, Amorphous silicon, Multi-objective optimization, Monte Carlo methods. This paper addresses a difficult inverse problem that involves the reconstruction of a three-dimensional model of tetrahedral amorphous semiconductors via inversion of diffraction data. By posing the material-st...
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | Sci Rep |
|---|---|
| Những tác giả chính: | , , , |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
Nature Publishing Group UK
2020
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7210951/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32385360 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/s41598-020-64327-3 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|