تحميل...
Combined Focused Ion Beam-Ultramicrotomy Method for TEM Specimen Preparation of Porous Fine-Grained Materials
A new transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation method that utilizes a combination of focused ion beam (FIB) methods and ultramicrotomy is demonstrated. This combined method retains the benefit of site-specific sampling by FIB but eliminates ion beam-induced damage except at specim...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | Microsc Microanal |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
2020
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7050410/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31858925 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1017/S1431927619015186 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|