Đang tải...

Amplitude Dependence of Resonance Frequency and its Consequences for Scanning Probe Microscopy

With recent advances in scanning probe microscopy (SPM), it is now routine to determine the atomic structure of surfaces and molecules while quantifying the local tip-sample interaction potentials. Such quantitative experiments using noncontact frequency modulation atomic force microscopy is based o...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Xuất bản năm:Sensors (Basel)
Những tác giả chính: Dagdeviren, Omur E., Miyahara, Yoichi, Mascaro, Aaron, Enright, Tyler, Grütter, Peter
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: MDPI 2019
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6832880/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31627343
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/s19204510
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!