লোডিং...
DeepRes: a new deep-learning- and aspect-based local resolution method for electron-microscopy maps
In this article, a method is presented to estimate a new local quality measure for 3D cryoEM maps that adopts the form of a ‘local resolution’ type of information. The algorithm (DeepRes) is based on deep-learning 3D feature detection. DeepRes is fully automatic and parameter-free, and avoids the is...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রকাশিত: | IUCrJ |
|---|---|
| প্রধান লেখক: | , , , , |
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
International Union of Crystallography
2019
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6830216/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31709061 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S2052252519011692 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|