Mapping of Genetic Loci Conferring Resistance to Leaf Rust From Three Globally Resistant Durum Wheat Sources

Genetic resistance in the host plant is the most economical and environmentally friendly strategy for controlling wheat leaf rust, caused by Puccinia triticina Eriks. The durum wheat lines Gaza (Middle East), Arnacoris (France) and Saragolla (Italy) express high levels of resistance to the Mexican r...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Xuất bản năm:Front Plant Sci
Những tác giả chính: Kthiri, Dhouha, Loladze, Alexander, N’Diaye, Amidou, Nilsen, Kirby T., Walkowiak, Sean, Dreisigacker, Susanne, Ammar, Karim, Pozniak, Curtis J.
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: Frontiers Media S.A. 2019
Những chủ đề:
Plant Science
Truy cập trực tuyến:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6792298/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31649708
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3389/fpls.2019.01247
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Những quyển sách tương tự