Serial Section Scanning Electron Microscopy of Adult Brain Tissue Using Focused Ion Beam Milling

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:J Neurosci
Hlavní autoři: Knott, Graham, Marchman, Herschel, Wall, David, Lich, Ben
Médium: Artigo
Jazyk:Inglês
Vydáno: Society for Neuroscience 2008
Témata:
Toolbox
On-line přístup:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6670719/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/18353998
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1523/JNEUROSCI.3189-07.2008
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!

Podobné jednotky