Serial Section Scanning Electron Microscopy of Adult Brain Tissue Using Focused Ion Beam Milling

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Detalles Bibliográficos
Publicado en:J Neurosci
Autores principales: Knott, Graham, Marchman, Herschel, Wall, David, Lich, Ben
Formato: Artigo
Lenguaje:Inglês
Publicado: Society for Neuroscience 2008
Materias:
Toolbox
Acceso en línea:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6670719/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/18353998
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1523/JNEUROSCI.3189-07.2008
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