تحميل...

Quantitative dual-energy micro-CT with a photon-counting detector for material science and non-destructive testing

The recent progress in photon-counting detector technology using high-Z semiconductor sensors provides new possibilities for spectral x-ray imaging. The benefits of the approach to extract spectral information directly from measurements in the projection domain are very advantageous for material sci...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
الحاوية / القاعدة:PLoS One
المؤلفون الرئيسيون: Sellerer, Thorsten, Ehn, Sebastian, Mechlem, Korbinian, Duda, Manuela, Epple, Michael, Noël, Peter B., Pfeiffer, Franz
التنسيق: Artigo
اللغة:Inglês
منشور في: Public Library of Science 2019
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6636745/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31314812
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1371/journal.pone.0219659
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!