Đang tải...

Quantitative dual-energy micro-CT with a photon-counting detector for material science and non-destructive testing

The recent progress in photon-counting detector technology using high-Z semiconductor sensors provides new possibilities for spectral x-ray imaging. The benefits of the approach to extract spectral information directly from measurements in the projection domain are very advantageous for material sci...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Xuất bản năm:PLoS One
Những tác giả chính: Sellerer, Thorsten, Ehn, Sebastian, Mechlem, Korbinian, Duda, Manuela, Epple, Michael, Noël, Peter B., Pfeiffer, Franz
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: Public Library of Science 2019
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6636745/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31314812
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1371/journal.pone.0219659
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!