Đang tải...
Quantitative dual-energy micro-CT with a photon-counting detector for material science and non-destructive testing
The recent progress in photon-counting detector technology using high-Z semiconductor sensors provides new possibilities for spectral x-ray imaging. The benefits of the approach to extract spectral information directly from measurements in the projection domain are very advantageous for material sci...
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | PLoS One |
|---|---|
| Những tác giả chính: | , , , , , , |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
Public Library of Science
2019
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6636745/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31314812 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1371/journal.pone.0219659 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|