تحميل...
Angular-momentum nanometrology in an ultrathin plasmonic topological insulator film
Complementary metal–oxide–semiconductor (CMOS) technology has provided a highly sensitive detection platform for high-resolution optical imaging, sensing and metrology. Although the detection of optical beams carrying angular momentum have been explored with nanophotonic methods, the metrology of op...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | Nat Commun |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
Nature Publishing Group UK
2018
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6200795/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/30356063 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/s41467-018-06952-1 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|