טוען...
Nanoscale Probing of Interaction in Atomically Thin Layered Materials
[Image: see text] We combine conductive atomic force microscopy (CAFM) and molecular dynamics (MD) simulations to reveal the interaction of atomically thin layered materials (ATLMs) down to nanoscale lateral dimension. The setup also allows quantifying, for the first time, the effect of layer number...
שמור ב:
| הוצא לאור ב: | ACS Cent Sci |
|---|---|
| Main Authors: | , |
| פורמט: | Artigo |
| שפה: | Inglês |
| יצא לאור: |
American Chemical Society
2018
|
| גישה מקוונת: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5833011/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/29532029 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1021/acscentsci.7b00590 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|