تحميل...

Advancing X-ray scattering metrology using inverse genetic algorithms

We compare the speed and effectiveness of two genetic optimization algorithms to the results of statistical sampling via a Markov chain Monte Carlo algorithm to find which is the most robust method for determining real space structure in periodic gratings measured using critical dimension small angl...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
الحاوية / القاعدة:J Micro Nanolithogr MEMS MOEMS
المؤلفون الرئيسيون: Hannon, Adam F., Sunday, Daniel F., Windover, Donald, Kline, R. Joseph
التنسيق: Artigo
اللغة:Inglês
منشور في: 2016
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4990789/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27551326
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1117/1.JMM.15.3.034001
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!