Ładuje się......
Temperature and layer thickness dependent in situ investigations on epindolidione organic thin-film transistors
We report on in situ performance evaluations as a function of layer thickness and substrate temperature for bottom-gate, bottom-gold contact epindolidione organic thin-film transistors on various gate dielectrics. Experiments were carried out under ultra-high vacuum conditions, enabling quasi-simult...
Zapisane w:
| Wydane w: | Synth Met |
|---|---|
| Główni autorzy: | , , , , , , , |
| Format: | Artigo |
| Język: | Inglês |
| Wydane: |
2016
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4913872/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27340329 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1016/j.synthmet.2016.05.003 |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|