Ładuje się......

Simultaneous multiplexed materials characterization using a high-precision hard X-ray micro-slit array

The needs both for increased experimental throughput and for in operando characterization of functional materials under increasingly realistic experimental conditions have emerged as major challenges across the whole of crystallography. A novel measurement scheme that allows multiplexed simultaneous...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Wydane w:J Synchrotron Radiat
Główni autorzy: Zhang, Fan, Allen, Andrew J., Levine, Lyle E., Mancini, Derrick C., Ilavsky, Jan
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: International Union of Crystallography 2015
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4786085/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/25931081
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S1600577515005378
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!