Ładuje się......
Photon gating in four-dimensional ultrafast electron microscopy
Ultrafast electron microscopy (UEM) is a pivotal tool for imaging of nanoscale structural dynamics with subparticle resolution on the time scale of atomic motion. Photon-induced near-field electron microscopy (PINEM), a key UEM technique, involves the detection of electrons that have gained energy f...
Zapisane w:
| Wydane w: | Proc Natl Acad Sci U S A |
|---|---|
| Główni autorzy: | , , , |
| Format: | Artigo |
| Język: | Inglês |
| Wydane: |
National Academy of Sciences
2015
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4620897/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26438835 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1073/pnas.1517942112 |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|