تحميل...
Layer-Resolved Evolution of Organic Thin Films Monitored by Photoelectron Emission Microscopy and Optical Reflectance Spectroscopy
[Image: see text] Photoelectron emission microscopy (PEEM) and differential (optical) reflectance spectroscopy (DRS) have proven independently to be versatile analytical tools for monitoring the evolution of organic thin films during growth. In this paper, we present the first experiment in which bo...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | J Phys Chem C Nanomater Interfaces |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
American Chemical
Society
2015
|
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4620530/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26523159 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1021/acs.jpcc.5b08083 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|